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JIS B 7440-2:2013
製品の幾何特性仕様(GPS)―座標測定機(CMM)の受入検査及び定期検査―第2部:長さ測定
Geometrical product specifications (GPS) -- Acceptance and reverification tests for coordinate measuring machines (CMM) -- Part 2: CMMs used for measuring linear dimensions

発行年月日: 2013-10-21
確認年月日: 2023-06-20
状態: 有効

プレビュー
和文(PDF)  英訳(PDF)
規格概要
長さ測定における座標測定機の性能の受入検査及び定期検査について規定。規定する受入検査及び定期検査は,離散点プロービングで使用する全ての形式の接触プロービングシステムを用いた直交形座標測定機だけに適用。
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公示の種類 確認
履歴 1997-11-20 制定
2003-03-20 改正
2008-10-01 確認
2013-10-21 改正
2018-10-22 確認
2023-06-20 確認
原案作成団体 一般財団法人 日本規格協会
ICS 17.040.30
対応国際規格 ISO 10360-2:2009 (IDT)
引用JIS規格 B0641-1 ,  B0672-1 ,  B7440-1 ,  B7440-5
引用国際規格 ISO/IEC Guide 99
ISO/TS 23165:2006
ハンドブック 機械計測:2025
備考
正誤票・訂正票
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