JIS B 7440-2:2013
製品の幾何特性仕様(GPS)―座標測定機(CMM)の受入検査及び定期検査―第2部:長さ測定
Geometrical product specifications (GPS) -- Acceptance and reverification tests for coordinate measuring machines (CMM) -- Part 2: CMMs used for measuring linear dimensions
発行年月日:
2013-10-21
確認年月日:
2023-06-20
状態:
有効
和文 36ページ
3,850 円(税込) 本体価格:3,500円
英訳 34ページ
19,360 円(税込) 本体価格:17,600円
- プレビュー
- 和文(PDF) 英訳(PDF)
- 規格概要
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長さ測定における座標測定機の性能の受入検査及び定期検査について規定。規定する受入検査及び定期検査は,離散点プロービングで使用する全ての形式の接触プロービングシステムを用いた直交形座標測定機だけに適用。全文を表示する
公示の種類 | 確認 |
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履歴 |
1997-11-20 制定 2003-03-20 改正 2008-10-01 確認 2013-10-21 改正 2018-10-22 確認 2023-06-20 確認
履歴に関する説明JISは、産業標準化法に基づき、主務大臣が必要と認め制定する国家規格です。JISの制定、確認又は改正の日から5年を経過する日までに、それがなお適正であるか見直しが行われ、主務大臣が確認、改正又は廃止を行います。
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原案作成団体 |
一般財団法人 日本規格協会 |
ICS |
17.040.30 |
対応国際規格 |
ISO 10360-2:2009
(IDT)
同等性に関する説明
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引用JIS規格 | B0641-1 , B0672-1 , B7440-1 , B7440-5 |
引用国際規格 |
ISO/IEC Guide 99 ISO/TS 23165:2006 |
ハンドブック |
機械計測:2025 |
備考 | |
正誤票・訂正票 |