NEWS TOPICS

会員向け情報

規格・書籍・物品

詳細検索する

JIS B 7440-11:2024
製品の幾何特性仕様(GPS)―座標測定システム(CMS)の受入検査及び定期検査―第11部:X線CTの原理を用いた座標測定システム
Geometrical product specifications (GPS) -- Acceptance and reverification tests for coordinate measuring systems (CMS) -- Part 11: CMSs using the principle of X-ray computed tomography (CT)

プレビュー
和文(PDF)
規格概要
X線CTの原理を用いた座標測定システムの性能が,製造業者の仕様に適合するかどうかを検証するための受入検査及び定期検査について規定。さらに,使用者が定期的に検証するための定期検査について規定。
全文を表示する
公示の種類 制定
履歴 2024-03-21 制定
原案作成団体 一般財団法人 日本規格協会
ICS 17.040.30
対応国際規格
引用JIS規格 B0641-1 ,  B7440-1 ,  B7442 ,  Z8103
引用国際規格
ハンドブック 機械計測:2025
備考
正誤票・訂正票
LOADING...