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JIS B 0091:2010
光学素子及び光学システムの干渉測定―表面形状及び波面形状公差の用語及び定義
Interferometric measurement of optical elements and systems -- Terms and definitions of surface form and wavefront deformation tolerances

発行年月日: 2010-05-20
確認年月日: 2020-10-20
状態: 有効

プレビュー
和文(PDF)
規格概要
JIS B 0090規格群で使用される光学素子及び光学システムの公差の中で,干渉測定に関する用語及び定義について規定。
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公示の種類 確認
履歴 2010-05-20 制定
2015-10-20 確認
2020-10-20 確認
原案作成団体 一般財団法人 日本規格協会
日本光学工業協会
ICS 37.020
対応国際規格 ISO 14999-4:2007 (IDT)
引用JIS規格 B0090-14 ,  B0090-5
引用国際規格
ハンドブック
備考
正誤票・訂正票
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