JIS B 0091:2010
光学素子及び光学システムの干渉測定―表面形状及び波面形状公差の用語及び定義
Interferometric measurement of optical elements and systems -- Terms and definitions of surface form and wavefront deformation tolerances
発行年月日:
2010-05-20
確認年月日:
2020-10-20
状態:
有効
和文 18ページ
2,420 円(税込) 本体価格:2,200円
公示の種類 | 確認 |
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履歴 |
2010-05-20 制定 2015-10-20 確認 2020-10-20 確認
履歴に関する説明JISは、産業標準化法に基づき、主務大臣が必要と認め制定する国家規格です。JISの制定、確認又は改正の日から5年を経過する日までに、それがなお適正であるか見直しが行われ、主務大臣が確認、改正又は廃止を行います。
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原案作成団体 |
一般財団法人 日本規格協会 日本光学工業協会 |
ICS |
37.020 |
対応国際規格 |
ISO 14999-4:2007 (IDT)
同等性に関する説明
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引用JIS規格 | B0090-14 , B0090-5 |
引用国際規格 | |
ハンドブック | |
備考 | |
正誤票・訂正票 |