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ISO 25498:2025
マイクロビーム分析-分析電子顕微鏡-透過型電子顕微鏡による選択領域電子回析分析
Microbeam analysis -- Analytical electron microscopy -- Selected area electron diffraction analysis using a transmission electron microscope

発行年月日: 2025-05-15
状態: 有効
邦訳版: 無

TC ISO/TC 202/SC 3
ICS 71.040.50
対応JIS規格
備考
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