ISO 20263:2024
マイクロビーム分析-分析電子顕微鏡法-層状材料の断面画像における界面位置を求めるための方法
Microbeam analysis -- Analytical electron microscopy -- Method for the determination of interface position in the cross-sectional image of the layered materials
発行年月日:
2024-11-06
状態:
有効
邦訳版:
無
英語 47ページ
35,046 円(税込) 本体価格:31,860円
TC |
ISO/TC 202/SC 3 |
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ICS |
37.020 71.040.50 |
対応JIS規格 |
同等性に関する説明
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備考 |