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ISO 20263:2024
マイクロビーム分析-分析電子顕微鏡法-層状材料の断面画像における界面位置を求めるための方法
Microbeam analysis -- Analytical electron microscopy -- Method for the determination of interface position in the cross-sectional image of the layered materials

発行年月日: 2024-11-06
状態: 有効
邦訳版: 無

TC ISO/TC 202/SC 3
ICS 37.020
71.040.50
対応JIS規格
備考
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