NEWS TOPICS

会員向け情報

規格・書籍・物品

詳細検索する

ISO 16206:2025
シリカレンガ中の残留石英の相定量分析-X線回折法
Phase quantitative analysis of residual quartz in silica bricks -- X-ray diffraction method

発行年月日: 2025-07-04
状態: 有効
邦訳版: 無

TC ISO/TC 33
ICS 81.080
対応JIS規格
備考
LOADING...