ISO 16206:2025
シリカレンガ中の残留石英の相定量分析-X線回折法
Phase quantitative analysis of residual quartz in silica bricks -- X-ray diffraction method
発行年月日:
2025-07-04
状態:
有効
邦訳版:
無
英語 8ページ
12,870 円(税込) 本体価格:11,700円
TC |
ISO/TC 33 |
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ICS |
81.080 |
対応JIS規格 |
同等性に関する説明
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備考 |