ISO 14606:2022
・表面化学分析-スパッター深さ方向分析-層構造系標準物質を用いた最適化法
Surface chemical analysis -- Sputter depth profiling -- Optimization using layered systems as reference materials
発行年月日:
2022-11-21
状態:
有効
邦訳版:
無
英語 17ページ
18,865 円(税込) 本体価格:17,150円
TC |
ISO/TC 201/SC 4 |
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ICS |
71.040.40 |
対応JIS規格 |
同等性に関する説明
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備考 |