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IEC/TS 62607-6-11 Ed. 1.0:2022 (en)
ナノマニュファクチャリング-鍵管理特性-第6-11部:グラフェン-欠陥密度-ラマン分光法
Nanomanufacturing - Key control characteristics - Part 6-11: Graphene - Defect density: Raman spectroscopy

発行年月日: 2022-02-08
状態: 有効
邦訳版: 無

規格概要
IEC TS 62607-6-11:2022(EN) establishes a standardized method to determine the key control characteristic
defect density nD
of graphene films grown by chemical vapour deposition as well as exfoliated graphene flakes by
Raman spectroscopy
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TC TC 113
ICS 07.120
備考
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