IEC/TS 62607-6-11 Ed. 1.0:2022 (en)
ナノマニュファクチャリング-鍵管理特性-第6-11部:グラフェン-欠陥密度-ラマン分光法
Nanomanufacturing - Key control characteristics - Part 6-11: Graphene - Defect density: Raman spectroscopy
発行年月日:
2022-02-08
状態:
有効
邦訳版:
無
英語 27ページ
38,500 円(税込) 本体価格:35,000円
- 規格概要
-
IEC TS 62607-6-11:2022(EN) establishes a standardized method to determine the key control characteristic全文を表示する
defect density nD
of graphene films grown by chemical vapour deposition as well as exfoliated graphene flakes by
Raman spectroscopy
TC |
TC 113 |
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ICS |
07.120 |
備考 |