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BS EN IEC 60749-37:2022 - TC
変更履歴-半導体素子-機械及び耐候試験方法-第37部:加速度計を使用するボードレベル落下試験方法
Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods - Board level drop test method using an accelerometer

発行年月日: 2022-12-20
状態: 有効
邦訳版: 無

移行先
移行元
ICS 31.080.01
対応国際規格
備考 Tracked Changesについてはこちら
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