BS EN IEC 60749-37:2022 - TC
変更履歴-半導体素子-機械及び耐候試験方法-第37部:加速度計を使用するボードレベル落下試験方法
Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods - Board level drop test method using an accelerometer
発行年月日:
2022-12-20
状態:
有効
邦訳版:
無
英語 60ページ
74,536 円(税込) 本体価格:67,760円
移行先 | |
---|---|
移行元 | |
ICS |
31.080.01 |
対応国際規格 |
同等性に関する説明
|
備考 | Tracked Changesについてはこちら |