NEWS TOPICS

会員向け情報

規格・書籍・物品

詳細検索する

BS EN IEC 60749-28:2022 - TC
変更履歴-半導体素子-機械及び耐候試験方法-第28部:静電気放電(ESD)感度試験-充電装置モデル(CDM)-装置レベル
Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods - Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing. Charged device model (CDM). device level

発行年月日: 2022-12-22
状態: 有効
邦訳版: 無

移行先
移行元
ICS 31.080.01
対応国際規格
備考 Tracked Changesについてはこちら
LOADING...