BS EN IEC 60749-28:2022 - TC
変更履歴-半導体素子-機械及び耐候試験方法-第28部:静電気放電(ESD)感度試験-充電装置モデル(CDM)-装置レベル
Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods - Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing. Charged device model (CDM). device level
発行年月日:
2022-12-22
状態:
有効
邦訳版:
無
英語 124ページ
104,060 円(税込) 本体価格:94,600円
移行先 | |
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移行元 | |
ICS |
31.080.01 |
対応国際規格 |
同等性に関する説明
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