ASTM F1467 - 25
半導体デバイスおよびマイクロ回路の電離放射線影響試験におけるX線試験装置(10keV光子)の使用に関する標準ガイド
Standard Guide for Use of an X-Ray Tester (10 keV Photons) in Ionizing Radiation Effects Testing of Semiconductor Devices and Microcircuits
発行年月日:
2025-06-01
状態:
有効
邦訳版:
無
英語 18ページ
13,376 円(税込) 本体価格:12,160円
移行先 | |
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ICS | |
ANNUALBOOK | 12.02 |
備考 |