JIS K 0183:2024
表面化学分析-走査型プローブ顕微鏡-原子間力顕微鏡を用いたJKR2点法による軟質材料の弾性率決定手順
Surface chemical analysis-Scanning probe microscopy-Procedure for the determination of elastic moduli for compliant materials using atomic force microscope and the two-point JKR method
発行年月日:
2024-10-21
状態:
有効
和文 22ページ
6,600 円(税込) 本体価格:6,000円
- プレビュー
- 和文(PDF)
- 規格概要
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この規格は,原子間力顕微鏡(AFM)を用いて軟質材料表面の力-距離曲線を測定し,ジョンソン-ケンドール-ロバーツ(JKR)理論に基づく2点法を用いた解析によって軟質材料の弾性率を決定する手順について規定する。この規格は,弾性率が100 kPa~1 GPaの範囲の軟質材料に適用する。空間分解能は,AFM探針と表面との接触半径に依存し,通常,約10 nm~20 nmである。全文を表示する
公示の種類 | 制定 |
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履歴 |
2024-10-21 制定
履歴に関する説明JISは、産業標準化法に基づき、主務大臣が必要と認め制定する国家規格です。JISの制定、確認又は改正の日から5年を経過する日までに、それがなお適正であるか見直しが行われ、主務大臣が確認、改正又は廃止を行います。
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原案作成団体 |
一般財団法人 日本規格協会 一般社団法人 表面化学分析技術国際標準化委員会 |
ICS |
71.040.40 |
対応国際規格 |
ISO 21222:2020
(IDT)
同等性に関する説明
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引用JIS規格 | K0147-2 , K0182 |
引用国際規格 | |
ハンドブック | |
備考 | この規格には、カラーページが含まれます。 |
正誤票・訂正票 |