JIS K 0159:2021
表面化学分析―走査型プローブ顕微鏡(SPM)を用いた幾何学量の測定:測定系の校正方法
Surface chemical analysis -- Scanning-probe microscopy -- Determination of geometric quantities using SPM: Calibration of measuring systems
発行年月日:
2021-11-22
状態:
有効
和文 62ページ
5,610 円(税込) 本体価格:5,100円
| 公示の種類 | 制定 |
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| 履歴 |
2021-11-22 制定
履歴に関する説明JISは、産業標準化法に基づき、主務大臣が必要と認め制定する国家規格です。JISの制定、確認又は改正の日から5年を経過する日までに、それがなお適正であるか見直しが行われ、主務大臣が確認、改正又は廃止を行います。
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| 原案作成団体 |
一般財団法人 日本規格協会 一般社団法人 表面化学分析技術国際標準化委員会 |
| ICS |
71.040.40 |
| 対応国際規格 |
ISO 11952:2019
(IDT)
同等性に関する説明
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| 引用JIS規格 | K0147-2 |
| 引用国際規格 |
IEC/TS 62622 ISO 11039 ISO/IEC Guide 98-3 |
| ハンドブック |
化学分析:2026 |
| 備考 | |
| 正誤票・訂正票 |