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JIS B 7440-5:2022
製品の幾何特性仕様(GPS)―座標測定システム(CMS)の受入検査及び定期検査―第5部:シングル及びマルチスタイラス接触プロービングシステムを用いた離散点及びスキャニング測定
Geometrical product specifications (GPS) -- Acceptance and reverification tests for coordinate measuring systems (CMS) -- Part 5: Coordinate measuring machines (CMMs) using single and multiple stylus contacting probing systems using discrete point and/or scanning measuring mode

発行年月日: 2022-03-22
状態: 有効

プレビュー
和文(PDF)  英訳(PDF)
規格概要
接触プロービングシステムをもつ座標測定機(CMM)の受入検査及び定期検査について規定。なお,次(あらゆる種類の接触プロービングシステム;球又は半球スタイラスチップ)のものを使用したCMMにだけに適用。
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公示の種類 改正
履歴 2004-03-20 制定
2008-10-01 確認
2013-10-21 改正
2018-10-22 確認
2022-03-22 改正
原案作成団体 一般財団法人 日本規格協会
ICS 17.040.30
対応国際規格 ISO 10360-5:2020 (MOD)
引用JIS規格 B 7440-2 ,  B0641-1 ,  B7440-1:2003 ,  B7440-2 ,  Z8103:2019
引用国際規格
ハンドブック 機械計測:2025
備考
正誤票・訂正票
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