JIS B 7440-5:2022
製品の幾何特性仕様(GPS)―座標測定システム(CMS)の受入検査及び定期検査―第5部:シングル及びマルチスタイラス接触プロービングシステムを用いた離散点及びスキャニング測定
Geometrical product specifications (GPS) -- Acceptance and reverification tests for coordinate measuring systems (CMS) -- Part 5: Coordinate measuring machines (CMMs) using single and multiple stylus contacting probing systems using discrete point and/or scanning measuring mode
発行年月日:
2022-03-22
状態:
有効
和文 52ページ
4,400 円(税込) 本体価格:4,000円
英訳 52ページ
13,640 円(税込) 本体価格:12,400円
- プレビュー
- 和文(PDF) 英訳(PDF)
- 規格概要
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接触プロービングシステムをもつ座標測定機(CMM)の受入検査及び定期検査について規定。なお,次(あらゆる種類の接触プロービングシステム;球又は半球スタイラスチップ)のものを使用したCMMにだけに適用。全文を表示する
公示の種類 | 改正 |
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履歴 |
2004-03-20 制定 2008-10-01 確認 2013-10-21 改正 2018-10-22 確認 2022-03-22 改正
履歴に関する説明JISは、産業標準化法に基づき、主務大臣が必要と認め制定する国家規格です。JISの制定、確認又は改正の日から5年を経過する日までに、それがなお適正であるか見直しが行われ、主務大臣が確認、改正又は廃止を行います。
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原案作成団体 |
一般財団法人 日本規格協会 |
ICS |
17.040.30 |
対応国際規格 |
ISO 10360-5:2020
(MOD)
同等性に関する説明
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引用JIS規格 | B 7440-2 , B0641-1 , B7440-1:2003 , B7440-2 , Z8103:2019 |
引用国際規格 | |
ハンドブック |
機械計測:2025 |
備考 | |
正誤票・訂正票 |