ISO 20411:2018
表面化学分析-二次イオン質量分析法-単一イオン計数ダイナミック二次イオン質量分析における飽和強度のための接続方法
Surface chemical analysis -- Secondary ion mass spectrometry -- Correction method for saturated intensity in single ion counting dynamic secondary ion mass spectrometry
発行年月日:
2018-03-09
状態:
有効
邦訳版:
無
英語 15ページ
18,865 円(税込) 本体価格:17,150円
TC |
ISO/TC 201/SC 6 |
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ICS |
71.040.40 |
対応JIS規格 |
JIS K 0158:2021
(IDT)
同等性に関する説明
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備考 |