NEWS TOPICS

会員向け情報

規格・書籍・物品

詳細検索する

ISO 17974:2002
表面化学分析-高解像度オージェ電子分光計-元素及び化学的状態分析のエネルギー目盛りの校正
Surface chemical analysis -- High-resolution Auger electron spectrometers -- Calibration of energy scales for elemental and chemical-state analysis

発行年月日: 2002-10-17
状態: 有効
邦訳版: 無

TC ISO/TC 201/SC 7
ICS 71.040.40
対応JIS規格 JIS K 0166:2011 (MOD)
備考
LOADING...