ISO 13084:2018
表面化学分析-二次イオン質量分析法-飛行時間型二次イオン質量分析計用の分析計の校正
Surface chemical analysis -- Secondary ion mass spectrometry -- Calibration of the mass scale for a time-of-flight secondary ion mass spectrometer
発行年月日:
2018-11-15
状態:
有効
邦訳版:
無
英語 15ページ
18,865 円(税込) 本体価格:17,150円
TC |
ISO/TC 201/SC 6 |
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ICS |
71.040.40 |
対応JIS規格 |
JIS K 0157:2021
(IDT)
同等性に関する説明
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備考 |