JIS Z 4504-2:2023
放射能測定―放射性表面汚染の測定及び評価―第2部:ふき取り試験
Measurement of radioactivity -- Measurement and evaluation of surface contamination -- Part 2: Test method using wipe-test samples
発行年月日:
2023-03-20
状態:
有効
和文 18ページ
2,310 円(税込) 本体価格:2,100円
公示の種類 | 制定 |
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履歴 |
2023-03-20 制定
履歴に関する説明JISは、産業標準化法に基づき、主務大臣が必要と認め制定する国家規格です。JISの制定、確認又は改正の日から5年を経過する日までに、それがなお適正であるか見直しが行われ、主務大臣が確認、改正又は廃止を行います。
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原案作成団体 |
一般財団法人 日本規格協会 一般社団法人 日本電気計測器工業会 |
ICS |
13.280 |
対応国際規格 |
ISO 7503-2:2016
(IDT)
同等性に関する説明
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引用JIS規格 | Q17025 , Z4329 , Z4334 , Z4504-1 , Z4504-3 |
引用国際規格 |
ISO 11929:2010 ISO 18589-2 ISO 9698 |
ハンドブック | |
備考 | |
正誤票・訂正票 |