JIS Z 4337:2011
据置形β線用物品表面汚染モニタ
Installed articles surface contamination monitoring assemblies for beta emitters
発行年月日:
2011-11-21
確認年月日:
2021-10-20
状態:
有効
和文 20ページ
2,750 円(税込) 本体価格:2,500円
英訳 16ページ
8,470 円(税込) 本体価格:7,700円
- プレビュー
- 和文(PDF) 英訳(PDF)
- 規格概要
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原子力施設などの管理区域から搬出する物品の表面汚染を測定するため,最大エネルギー0.15MeV以上のβ線を放出する核種による汚染の検出を目的とする,据置形β線用物品表面汚染モニタについて規定。全文を表示する
公示の種類 | 確認 |
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履歴 |
1997-07-20 制定 2002-06-20 確認 2007-03-20 確認 2011-11-21 改正 2016-10-20 確認 2021-10-20 確認
履歴に関する説明JISは、産業標準化法に基づき、主務大臣が必要と認め制定する国家規格です。JISの制定、確認又は改正の日から5年を経過する日までに、それがなお適正であるか見直しが行われ、主務大臣が確認、改正又は廃止を行います。
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原案作成団体 |
一般財団法人 日本規格協会 一般社団法人 日本電気計測器工業会 |
ICS |
13.280 17.240 |
対応国際規格 |
同等性に関する説明
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引用JIS規格 | Z4001 , Z4334 , Z8103 |
引用国際規格 | |
ハンドブック | |
備考 | |
正誤票・訂正票 |