JIS Z 4334:2019
放射性表面汚染モニタ校正用標準線源―α線,β線及びX・γ線放出核種
Reference sources -- Calibration of surface contamination monitors -- Alpha-, beta- and photon emitters
発行年月日:
2019-02-20
確認年月日:
2023-10-20
状態:
有効
和文 18ページ
2,310 円(税込) 本体価格:2,100円
- プレビュー
- 和文(PDF)
- 規格概要
-
放射性表面汚染モニタの校正に用いる,国家計量標準へのトレーサビリティが確保された放射性表面汚染モニタ校正用標準線源について規定。表面汚染モニタの校正のための標準線源の使用方法については,規定しない。全文を表示する
公示の種類 | 確認 |
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履歴 |
1992-03-01 制定 1997-06-20 確認 2002-06-20 確認 2005-03-20 改正 2009-10-01 確認 2014-10-20 確認 2019-02-20 改正 2023-10-20 確認
履歴に関する説明JISは、産業標準化法に基づき、主務大臣が必要と認め制定する国家規格です。JISの制定、確認又は改正の日から5年を経過する日までに、それがなお適正であるか見直しが行われ、主務大臣が確認、改正又は廃止を行います。
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原案作成団体 |
一般財団法人 日本規格協会 一般社団法人 日本電気計測器工業会 |
ICS |
17.240 |
対応国際規格 |
ISO 8769:2016 (MOD)
同等性に関する説明
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引用JIS規格 | Q17025 , Z4001 , Z8103 |
引用国際規格 | |
ハンドブック | |
備考 | |
正誤票・訂正票 |