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JIS Z 4334:2019
放射性表面汚染モニタ校正用標準線源―α線,β線及びX・γ線放出核種
Reference sources -- Calibration of surface contamination monitors -- Alpha-, beta- and photon emitters

発行年月日: 2019-02-20
確認年月日: 2023-10-20
状態: 有効

プレビュー 和文(PDF)
規格概要 放射性表面汚染モニタの校正に用いる,国家計量標準へのトレーサビリティが確保された放射性表面汚染モニタ校正用標準線源について規定。表面汚染モニタの校正のための標準線源の使用方法については,規定しない。
公示の種類 確認
履歴 1992-03-01 制定
1997-06-20 確認
2002-06-20 確認
2005-03-20 改正
2009-10-01 確認
2014-10-20 確認
2019-02-20 改正
2023-10-20 確認
原案作成団体 一般財団法人 日本規格協会
一般社団法人 日本電気計測器工業会
ICS 17.240
対応国際規格 ISO 8769:2016 (MOD)
引用JIS規格 Q17025 ,  Z4001 ,  Z8103
引用国際規格
ハンドブック
備考
正誤票・訂正票
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