JIS K 0184:2026
表面化学分析-分析前の試料取扱い
Surface chemical analysis-Handling of specimens prior to analysis
発行年月日:
2026-02-20
状態:
有効
和文 14ページ
2,860 円(税込) 本体価格:2,600円
- 規格概要
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この規格は,表面化学分析用に持ち込まれる試料の取扱い及び容器についての指針を示す。この規格は,表面分析サービスの利用者に対して,表面化学分析技術,特にオージェ電子分光法(AES),X線光電子分光法(XPS)及び二次イオン質量分析法(SIMS)の特別な試料片の取扱い要件を理解する助けとなることを目的とする。この手順は,表面組成に敏感なTXRFなどの他の分析手法にも適用してもよい。特別な場合,特別な試料では,さらなる注意事項が必要な場合がある。全文を表示する
| 公示の種類 | 制定 |
|---|---|
| 履歴 |
2026-02-20 制定
履歴に関する説明JISは、産業標準化法に基づき、主務大臣が必要と認め制定する国家規格です。JISの制定、確認又は改正の日から5年を経過する日までに、それがなお適正であるか見直しが行われ、主務大臣が確認、改正又は廃止を行います。
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| 原案作成団体 |
一般財団法人 日本規格協会 一般社団法人 表面化学分析技術国際標準化委員会 |
| ICS |
71.040.40 |
| 対応国際規格 |
同等性に関する説明
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| 引用JIS規格 | K0147-1 , K0147-2 |
| 引用国際規格 |
ISO 18115-3 |
| ハンドブック | |
| 備考 | |
| 正誤票・訂正票 |