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JIS K 0155:2025
表面化学分析-二次イオン質量分析法-単一イオン計数飛行時間形質量分析器における強度軸の線形性
Surface chemical analysis-Secondary ion mass spectrometry-Linearity of intensity scale in single ion counting time-of-flight mass analysers

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和文(PDF)
規格概要
この規格は,ポリテトラフルオロエチレン(PTFE)からのスペクトル中の同位体比に基づく試験方法を用いた,単一イオン計数TOF-SIMS装置における強度軸の線形性からのかい(乖)離が,許容限界内となる最大計数率を決定する方法について規定する。
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公示の種類 改正
履歴 2018-09-20 制定
2023-10-20 確認
2025-05-20 改正
原案作成団体 一般財団法人 日本規格協会
一般社団法人 表面化学分析技術国際標準化委員会
ICS 71.040.40
対応国際規格 ISO 17862:2022 (IDT)
引用JIS規格 K0157
引用国際規格
ハンドブック
備考
正誤票・訂正票
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