JIS K 0155:2025
表面化学分析-二次イオン質量分析法-単一イオン計数飛行時間形質量分析器における強度軸の線形性
Surface chemical analysis-Secondary ion mass spectrometry-Linearity of intensity scale in single ion counting time-of-flight mass analysers
発行年月日:
2025-05-20
状態:
有効
和文 28ページ
6,820 円(税込) 本体価格:6,200円
- プレビュー
- 和文(PDF)
- 規格概要
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この規格は,ポリテトラフルオロエチレン(PTFE)からのスペクトル中の同位体比に基づく試験方法を用いた,単一イオン計数TOF-SIMS装置における強度軸の線形性からのかい(乖)離が,許容限界内となる最大計数率を決定する方法について規定する。全文を表示する
公示の種類 | 改正 |
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履歴 |
2018-09-20 制定 2023-10-20 確認 2025-05-20 改正
履歴に関する説明JISは、産業標準化法に基づき、主務大臣が必要と認め制定する国家規格です。JISの制定、確認又は改正の日から5年を経過する日までに、それがなお適正であるか見直しが行われ、主務大臣が確認、改正又は廃止を行います。
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原案作成団体 |
一般財団法人 日本規格協会 一般社団法人 表面化学分析技術国際標準化委員会 |
ICS |
71.040.40 |
対応国際規格 |
ISO 17862:2022
(IDT)
同等性に関する説明
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引用JIS規格 | K0157 |
引用国際規格 | |
ハンドブック | |
備考 | |
正誤票・訂正票 |