JIS H 0615:2021
フォトルミネッセンスによるシリコン結晶中の不純物濃度測定方法
Test method for determination of impurity concentrations in silicon crystal by photoluminescence spectroscopy
発行年月日:
2021-09-21
状態:
有効
和文 24ページ
3,300 円(税込) 本体価格:3,000円
公示の種類 | 改正 |
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履歴 |
1996-01-01 制定 2001-09-20 確認 2006-01-20 確認 2010-10-01 確認 2015-10-20 確認 2020-10-20 確認 2021-09-21 改正
履歴に関する説明JISは、産業標準化法に基づき、主務大臣が必要と認め制定する国家規格です。JISの制定、確認又は改正の日から5年を経過する日までに、それがなお適正であるか見直しが行われ、主務大臣が確認、改正又は廃止を行います。
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原案作成団体 |
一般財団法人 日本規格協会 一般社団法人 新金属協会 |
ICS |
73.080 |
対応国際規格 |
同等性に関する説明
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引用JIS規格 | H0602 , K8541 , K8819 |
引用国際規格 | |
ハンドブック | |
備考 | |
正誤票・訂正票 |