JIS H 0613:1978
シリコンスライスウェーハ及びラップウェーハの外観検査
Visual inspection for sliced and lapped silicon wafers
発行年月日:
1978-01-05
確認年月日:
2024-10-21
状態:
有効
和文 4ページ
770 円(税込) 本体価格:700円
- 規格概要
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シリコンのスライス又はラップしたウエーハの外観検査について規定。全文を表示する
公示の種類 | 確認 |
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履歴 |
1978-01-01 制定 1983-10-01 確認 1988-12-01 確認 1993-12-01 確認 1999-06-20 確認 2004-03-20 確認 2009-10-01 確認 2014-10-20 確認 2019-10-21 確認 2024-10-21 確認
履歴に関する説明JISは、産業標準化法に基づき、主務大臣が必要と認め制定する国家規格です。JISの制定、確認又は改正の日から5年を経過する日までに、それがなお適正であるか見直しが行われ、主務大臣が確認、改正又は廃止を行います。
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原案作成団体 |
一般社団法人 新金属協会 |
ICS |
29.045 77.120.99 |
対応国際規格 |
同等性に関する説明
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引用JIS規格 | C7612 , H0609 |
引用国際規格 | |
ハンドブック | |
備考 | |
正誤票・訂正票 |