NEWS TOPICS

会員向け情報はこちら

規格・書籍・物品

詳細検索する

JIS H 0611:1994
シリコンウェーハの厚さ,厚さむら及びボウの測定方法
Methods of measurement of thickness, thickness variation and bow for silicon wafer

発行年月日: 1994-02-28
確認年月日: 2020-10-20
状態: 有効

規格概要
シリコン単結晶ウェーハの厚さ,厚さむら及びボウの測定方法について規定。
全文を表示する
公示の種類 確認
履歴 1971-10-01 制定
1974-10-01 確認
1978-02-01 確認
1983-10-01 確認
1988-12-01 確認
1994-01-01 改正
2001-09-20 確認
2006-01-20 確認
2010-10-01 確認
2015-10-20 確認
2020-10-20 確認
原案作成団体 一般社団法人 新金属協会
ICS 29.045
77.120.99
対応国際規格
引用JIS規格 B7503 ,  B7536 ,  B9920
引用国際規格
ハンドブック
備考
正誤票・訂正票
LOADING...