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JIS C 7031:1993
小信号用半導体ダイオード測定方法
Measuring methods for small signal diodes

発行年月日: 1993-02-28
確認年月日: 2024-06-20
状態: 有効

プレビュー 和文(PDF)  英訳(PDF)
規格概要 電子装置に使用する検波,スイッチング,混合などに用いられる小信号用半導体ダイオードの電気的測定方法について規定。
公示の種類 確認
履歴 1963-09-01 制定
1966-09-01 確認
1969-12-01 確認
1972-11-01 確認
1976-03-01 改正
1979-03-01 確認
1984-09-01 確認
1989-10-01 確認
1993-02-01 改正
1999-06-20 確認
2004-03-20 確認
2009-10-01 確認
2014-10-20 確認
2019-10-21 確認
2024-06-20 確認
原案作成団体 一般社団法人 電子情報技術産業協会
ICS 31.080.10
対応国際規格 IEC 60747-3:1985 (MOD)
引用JIS規格 C0301 ,  C1102
引用国際規格
ハンドブック 電子 III-2:2023
備考
正誤票・訂正票
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