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JIS C 7030:1993
トランジスタ測定方法
Measuring methods for transistors

発行年月日: 1993-02-28
確認年月日: 2024-06-20
状態: 有効

プレビュー
和文(PDF)  英訳(PDF)
規格概要
電子装置に用いるバイポーラトランジスタ及び電界効果トランジスタの電気的性能の測定方法について規定。
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公示の種類 確認
履歴 1961-06-01 制定
1962-06-01 確認
1967-12-01 改正
1970-12-01 確認
1973-12-01 改正
1977-01-01 確認
1980-01-01 確認
1986-07-01 確認
1993-02-01 改正
1999-06-20 確認
2004-03-20 確認
2009-10-01 確認
2014-10-20 確認
2019-10-21 確認
2024-06-20 確認
原案作成団体 一般社団法人 電子情報技術産業協会
ICS 31.080.30
対応国際規格 IEC 60747-7:1988 (NEQ) ,  IEC 60747-8:1984 (NEQ)
引用JIS規格 C0301 ,  C1102
引用国際規格
ハンドブック 電子 III-2:2023
備考
正誤票・訂正票
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