JIS C 7030:1993
トランジスタ測定方法
Measuring methods for transistors
発行年月日:
1993-02-28
確認年月日:
2024-06-20
状態:
有効
和文 81ページ
4,290 円(税込) 本体価格:3,900円
英訳 94ページ
21,120 円(税込) 本体価格:19,200円
公示の種類 | 確認 |
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履歴 |
1961-06-01 制定 1962-06-01 確認 1967-12-01 改正 1970-12-01 確認 1973-12-01 改正 1977-01-01 確認 1980-01-01 確認 1986-07-01 確認 1993-02-01 改正 1999-06-20 確認 2004-03-20 確認 2009-10-01 確認 2014-10-20 確認 2019-10-21 確認 2024-06-20 確認
履歴に関する説明JISは、産業標準化法に基づき、主務大臣が必要と認め制定する国家規格です。JISの制定、確認又は改正の日から5年を経過する日までに、それがなお適正であるか見直しが行われ、主務大臣が確認、改正又は廃止を行います。
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原案作成団体 |
一般社団法人 電子情報技術産業協会 |
ICS |
31.080.30 |
対応国際規格 |
IEC 60747-7:1988 (NEQ) , IEC 60747-8:1984 (NEQ)
同等性に関する説明
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引用JIS規格 | C0301 , C1102 |
引用国際規格 | |
ハンドブック |
電子 III-2:2023 |
備考 | |
正誤票・訂正票 |