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JIS C 6760:2026
弾性表面波デバイス用単結晶ウェハ-仕様及び測定法
Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications-Specifications and measuring methods

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和文(PDF)
規格概要
この規格は,弾性表面波(SAW)フィルタ及び弾性表面波共振子の基板として用いる人工水晶,ニオブ酸リチウム(LN),タンタル酸リチウム(LT),四ほう酸リチウム(LBO)及びランガサイト(LGS)のウェハについて規定する。
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公示の種類 改正
履歴 2014-06-20 制定
2019-10-21 確認
2024-06-20 確認
2026-02-20 改正
原案作成団体 一般財団法人 日本規格協会
日本水晶デバイス工業会
ICS 31.140
対応国際規格 IEC 62276:2025 (MOD)
引用JIS規格 C6704:2017
引用国際規格
ハンドブック
備考
正誤票・訂正票
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