JIS C 6760:2026
弾性表面波デバイス用単結晶ウェハ-仕様及び測定法
Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications-Specifications and measuring methods
発行年月日:
2026-02-20
状態:
有効
和文 40ページ
9,460 円(税込) 本体価格:8,600円
- プレビュー
- 和文(PDF)
- 規格概要
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この規格は,弾性表面波(SAW)フィルタ及び弾性表面波共振子の基板として用いる人工水晶,ニオブ酸リチウム(LN),タンタル酸リチウム(LT),四ほう酸リチウム(LBO)及びランガサイト(LGS)のウェハについて規定する。全文を表示する
| 公示の種類 | 改正 |
|---|---|
| 履歴 |
2014-06-20 制定 2019-10-21 確認 2024-06-20 確認 2026-02-20 改正
履歴に関する説明JISは、産業標準化法に基づき、主務大臣が必要と認め制定する国家規格です。JISの制定、確認又は改正の日から5年を経過する日までに、それがなお適正であるか見直しが行われ、主務大臣が確認、改正又は廃止を行います。
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| 原案作成団体 |
一般財団法人 日本規格協会 日本水晶デバイス工業会 |
| ICS |
31.140 |
| 対応国際規格 |
IEC 62276:2025 (MOD)
同等性に関する説明
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| 引用JIS規格 | C6704:2017 |
| 引用国際規格 | |
| ハンドブック | |
| 備考 | |
| 正誤票・訂正票 |