JIS C 61326-2-1:2022
計測用,制御用及び試験室用の電気装置―電磁両立性(EMC)要求事項―第2-1部:個別要求事項―EMC防護が施されていない感受性の高い試験用及び測定用の装置の試験配置,動作条件及び性能評価基準
Electrical equipment for measurement, control and laboratory use -- EMC requirements -- Part 2-1: Particular requirements -- Test configurations, operational conditions and performance criteria for sensitive test and measurement equipment for EMC unprotected applications
発行年月日:
2022-08-22
状態:
有効
和文 10ページ
1,980 円(税込) 本体価格:1,800円
- 規格概要
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JIS C 61326-1の適用範囲に加えて,製造業者が指定する,操作上及び/又は機能上の理由によって電磁両立性(EMC)防護を施せない,(装置の内部及び/又は外部に)試験及び測定用の回路がある装置の,より詳細な試験配置,動作条件及び性能評価基準について規定。全文を表示する
公示の種類 | 改正 |
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履歴 |
2017-10-20 制定 2022-08-22 改正
履歴に関する説明JISは、産業標準化法に基づき、主務大臣が必要と認め制定する国家規格です。JISの制定、確認又は改正の日から5年を経過する日までに、それがなお適正であるか見直しが行われ、主務大臣が確認、改正又は廃止を行います。
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原案作成団体 |
一般財団法人 日本規格協会 一般社団法人 日本電気計測器工業会 |
ICS |
17.220.20 25.040.40 33.100.20 |
対応国際規格 |
IEC 61326-2-1:2020 (IDT)
同等性に関する説明
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引用JIS規格 | C61326-1:2022 |
引用国際規格 | |
ハンドブック |
電気計測:2024 電磁両立性(EMC):2024 |
備考 | |
正誤票・訂正票 |