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JIS C 61000-4-20:2024
電磁両立性-第4-20部:試験及び測定技術-TEM(横方向電磁界)導波路のエミッション及びイミュニティ試験
Electromagnetic compatibility (EMC)-Part 4-20: Testing and measurement techniques-Emission and immunity testing in transverse electromagnetic (TEM) waveguides

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和文(PDF)
規格概要
この規格は,様々な種類の横方向電磁界導波路を用いた,電気・電子装置に対するエミッション及びイミュニティ試験方法について規定する。これらの種類には,開放構造(例えば,ストリップライン及び電磁パルスシミュレータ)及び密閉構造(例えば,TEMセル)を含む。
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公示の種類 改正
履歴 2006-04-20 制定
2011-10-20 確認
2014-02-20 改正
2018-10-22 確認
2023-06-20 確認
2024-09-20 改正
原案作成団体 一般財団法人 日本規格協会
一般社団法人 電気学会
ICS 33.100.10
33.100.20
対応国際規格 IEC 61000-4-20:2022 (IDT)
引用JIS規格 C60050-161
引用国際規格
ハンドブック
備考
正誤票・訂正票
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