JIS C 61000-4-20:2024
電磁両立性-第4-20部:試験及び測定技術-TEM(横方向電磁界)導波路のエミッション及びイミュニティ試験
Electromagnetic compatibility (EMC)-Part 4-20: Testing and measurement techniques-Emission and immunity testing in transverse electromagnetic (TEM) waveguides
発行年月日:
2024-09-20
状態:
有効
和文 114ページ
11,440 円(税込) 本体価格:10,400円
- プレビュー
- 和文(PDF)
- 規格概要
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この規格は,様々な種類の横方向電磁界導波路を用いた,電気・電子装置に対するエミッション及びイミュニティ試験方法について規定する。これらの種類には,開放構造(例えば,ストリップライン及び電磁パルスシミュレータ)及び密閉構造(例えば,TEMセル)を含む。全文を表示する
公示の種類 | 改正 |
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履歴 |
2006-04-20 制定 2011-10-20 確認 2014-02-20 改正 2018-10-22 確認 2023-06-20 確認 2024-09-20 改正
履歴に関する説明JISは、産業標準化法に基づき、主務大臣が必要と認め制定する国家規格です。JISの制定、確認又は改正の日から5年を経過する日までに、それがなお適正であるか見直しが行われ、主務大臣が確認、改正又は廃止を行います。
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原案作成団体 |
一般財団法人 日本規格協会 一般社団法人 電気学会 |
ICS |
33.100.10 33.100.20 |
対応国際規格 |
IEC 61000-4-20:2022 (IDT)
同等性に関する説明
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引用JIS規格 | C60050-161 |
引用国際規格 | |
ハンドブック | |
備考 | |
正誤票・訂正票 |