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JIS C 5005-2:2010
品質評価システム―第2部:電子部品及び電子パッケージのための抜取検査方式の選択及び活用(統計的工程品質限界の評価手順)
Quality assessment systems -- Part 2: Selection and use of sampling plans for inspection of electronic components and packages

発行年月日: 2010-05-20
確認年月日: 2020-06-22
状態: 有効

プレビュー
和文(PDF)
規格概要
合格判定数(合格許容不適合数)ゼロ(Ac=0)を前提として,サンプルの選定及び手順の基準を含む計数値抜取検査方式について規定。
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公示の種類 確認
履歴 2010-05-20 制定
2015-10-20 確認
2020-06-22 確認
原案作成団体 一般財団法人 日本規格協会
一般社団法人 電子情報技術産業協会
ICS 31.190
対応国際規格 IEC 61193-2:2007 (IDT)
引用JIS規格 Z8101-2 ,  Z9015-1:2006
引用国際規格 IEC 60194
ハンドブック 電子 III-1:2023
備考
正誤票・訂正票
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