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JIS C 2170:2004
静電気電荷蓄積を防止する固体平面材料の抵抗及び抵抗率試験方法
Electrostatics -- Methods of test for determining the resistance and resistivity of solid planar materials used to avoid electrostatic charge accumulation

発行年月日: 2004-03-20
確認年月日: 2023-10-20
状態: 有効

プレビュー
和文(PDF)  英訳(PDF)
規格概要
静電気電荷蓄積を防止するための10×4~10×12Ωの範囲の固体平面材料の電気的抵抗及び抵抗率の試験方法について規定。
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公示の種類 確認
履歴 2004-03-20 制定
2008-10-01 確認
2013-10-21 確認
2018-10-22 確認
2023-10-20 確認
原案作成団体 一般財団法人 日本電子部品信頼性センター
ICS 17.220.99
29.020
対応国際規格 IEC 61340-2-3:2000 (IDT)
引用JIS規格
引用国際規格 IEC 60093:1980
IEC 60167:1964
IEC 60212:1971
IEC 60260:1968
ISO 1853:1998
ISO 2951:1974
ISO 3915:1981
ハンドブック 電子 I:2023
備考
正誤票・訂正票 英訳正誤票 (201101)   正誤票 (201012)  
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