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JIS B 0090-8:2013
光学素子及び光学システム用の製図手法―第8部:表面性状(粗さ及びうねり)
Preparation of drawings for optical elements and systems -- Part 8: Surface texture; roughness and waviness

発行年月日: 2013-10-21
確認年月日: 2023-10-20
状態: 有効

プレビュー
和文(PDF)
規格概要
光学素子の表面性状を指示する表示方法;主として研磨された光学面の仕様の表示方法;測定表面から表面形状を差引くトレンド除去後の残差表面の特徴付けの方法及びその表示方法について規定。表面形状を管理する規格はJIS B 0090-5及びJIS B 0090-12であり,この規格では規定しない。
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公示の種類 確認
履歴 2001-03-20 制定
2006-03-25 確認
2010-10-01 確認
2013-10-21 改正
2018-10-22 確認
2023-10-20 確認
原案作成団体 一般財団法人 日本規格協会
日本光学工業協会
ICS 01.100.20
37.020
対応国際規格 ISO 10110-8:2010 (MOD)
引用JIS規格 B0031 ,  B0090-1
引用国際規格
ハンドブック
備考
正誤票・訂正票
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