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JEITA ED-7401-4
半導体パッケージ規定寸法の測定方法(集積回路)
Method of measuring semiconductor device package dimensions (integrated circuits)

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規格概要
この規格は半導体パッケージ規定寸法の測定方法(集積回路)について規定する。
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ICS
対応規格
引用JIS規格
引用規格
備考 スタビライズド:2014-03-01
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