JEITA ED-4701/600A
半導体デバイスの環境及び耐久性試験方法(個別半導体特有の試験)
Environmental and endurance test methods for semiconductor devices(Specific test for discrete semiconductors)
発行年月日:
2026-03-31
状態:
有効
和文 27ページ
8,140 円(税込) 本体価格:7,400円
英訳 28ページ
8,360 円(税込) 本体価格:7,600円
- 規格概要
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この規格は半導体デバイスの環境及び耐久性試験方法(個別半導体特有の試験)について規定する。全文を表示する
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| 対応規格 |
同等性に関する説明
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| 引用JIS規格 | |
| 引用規格 | |
| 備考 | 旧規格:ED-4701/600 |