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ISO 5618-2:2024
ファインセラミックス(先進セラミックス,先進技術セラミックス)-GaN結晶表面欠陥の検査方法-第2部:エッチピット密度の求め方
Fine ceramics (advanced ceramics, advanced technical ceramics) -- Test method for GaN crystal surface defects -- Part 2: Method for determining etch pit density

発行年月日: 2024-04-30
状態: 有効
邦訳版: 無

TC ISO/TC 206
ICS 81.060.30
対応JIS規格
備考
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