ISO 5618-2:2024
ファインセラミックス(先進セラミックス,先進技術セラミックス)-GaN結晶表面欠陥の検査方法-第2部:エッチピット密度の求め方
Fine ceramics (advanced ceramics, advanced technical ceramics) -- Test method for GaN crystal surface defects -- Part 2: Method for determining etch pit density
発行年月日:
2024-04-30
状態:
有効
邦訳版:
無
英語 25ページ
25,542 円(税込) 本体価格:23,220円
TC |
ISO/TC 206 |
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ICS |
81.060.30 |
対応JIS規格 |
同等性に関する説明
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備考 |