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ISO 25387:2026
マイクロビーム分析-分析電子顕微鏡-高分解能透過型電子顕微鏡の点分解能を決定する手順
Microbeam analysis -- Analytical electron microscopy -- Procedures for determining the point resolution of high-resolution transmission electron microscope

発行年月日: 2026-06-09
状態: 有効
邦訳版: 無

TC ISO/TC 202/SC 3
ICS 37.020
対応規格
備考
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