ISO 25387:2026
マイクロビーム分析-分析電子顕微鏡-高分解能透過型電子顕微鏡の点分解能を決定する手順
Microbeam analysis -- Analytical electron microscopy -- Procedures for determining the point resolution of high-resolution transmission electron microscope
発行年月日:
2026-06-09
状態:
有効
邦訳版:
無
英語 52ページ
46,002 円(税込) 本体価格:41,820円
| TC |
ISO/TC 202/SC 3 |
|---|---|
| ICS |
37.020 |
| 対応規格 |
同等性に関する説明
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| 備考 |