ISO 21222:2020
表面化学分析-走査型プローブ顕微鏡-原子間力顕微鏡及び二点JKR法を使用したコンプライアント材料の弾性係数の決定手順
Surface chemical analysis -- Scanning probe microscopy -- Procedure for the determination of elastic moduli for compliant materials using atomic force microscope and the two-point JKR method
発行年月日:
2020-01-29
状態:
有効
邦訳版:
無
英語 17ページ
19,008 円(税込) 本体価格:17,280円
TC |
ISO/TC 201/SC 9 |
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ICS |
71.040.40 |
対応JIS規格 |
JIS K 0183:2024
(IDT)
同等性に関する説明
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備考 |