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ISO 21222:2020
表面化学分析-走査型プローブ顕微鏡-原子間力顕微鏡及び二点JKR法を使用したコンプライアント材料の弾性係数の決定手順
Surface chemical analysis -- Scanning probe microscopy -- Procedure for the determination of elastic moduli for compliant materials using atomic force microscope and the two-point JKR method

発行年月日: 2020-01-29
状態: 有効
邦訳版: 無

TC ISO/TC 201/SC 9
ICS 71.040.40
対応JIS規格 JIS K 0183:2024 (IDT)
備考
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