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ISO 17297:2025
マイクロビーム分析-TEM試料作製のための集束イオンビーム応用-用語集
Microbeam analysis -- Focused ion beam application for TEM specimen preparation -- Vocabulary

発行年月日: 2025-05-26
状態: 有効
邦訳版: 無

TC ISO/TC 202/SC 1
ICS 01.040.71
71.040.50
対応JIS規格
備考
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