ISO 17297:2025
マイクロビーム分析-TEM試料作製のための集束イオンビーム応用-用語集
Microbeam analysis -- Focused ion beam application for TEM specimen preparation -- Vocabulary
発行年月日:
2025-05-26
状態:
有効
邦訳版:
無
英語 14ページ
18,865 円(税込) 本体価格:17,150円
TC |
ISO/TC 202/SC 1 |
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ICS |
01.040.71 71.040.50 |
対応JIS規格 |
同等性に関する説明
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備考 |