BS EN IEC 60749-23:2026 - TC
変更履歴-半導体素子-機械及び耐候試験方法-第23部:高温動作寿命
Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods - High temperature operating life
発行年月日:
2026-02-12
状態:
有効
邦訳版:
無
英語 34ページ
48,400 円(税込) 本体価格:44,000円
| 移行先 | |
|---|---|
| 移行元 | |
| ICS |
31.080.01 |
| 対応国際規格 |
同等性に関する説明
|
| 備考 | Tracked Changes版に関する説明 |