BS EN IEC 60749-23:2026
半導体素子-機械及び耐候試験方法-第23部:高温動作寿命
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods - High temperature operating life
発行年月日:
2026-02-03
状態:
有効
邦訳版:
無
英語 14ページ
34,364 円(税込) 本体価格:31,240円
| 移行先 | |
|---|---|
| 移行元 | BS EN 60749-23:2004+A1:2011 |
| ICS |
31.080.01 |
| 対応国際規格 |
EN 60749-23 Ed.2.0, IEC 60749-23:2025
同等性に関する説明
|
| 備考 |