ASTM B651 - 83(2024)
ダブルビーム干渉顕微鏡を使用した,ニッケルプラスクロムまたは銅プラスニッケルプラスクロム電気めっき表面の腐食部位の測定のための標準試験方法
Standard Test Method for Measurement of Corrosion Sites in Nickel Plus Chromium or Copper Plus Nickel Plus Chromium Electroplated Surfaces with Double-Beam Interference Microscope
発行年月日:
2024-05-01
状態:
有効
邦訳版:
無
英語 3ページ
11,264 円(税込) 本体価格:10,240円
| 移行先 | |
|---|---|
| ICS | |
| ANNUALBOOK | 02.05 |
| 備考 |