ISO 7503-3:2016
放射能測定-表面汚染の測定及び見積り-第3部:試験装置の校正
Measurement of radioactivity -- Measurement and evaluation of surface contamination -- Part 3: Apparatus calibration
発行年月日:
2016-01-18
状態:
有効
邦訳版:
無
英語 63ページ
38,412 円(税込) 本体価格:34,920円
TC |
ISO/TC 85/SC 2 |
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ICS |
13.280 |
対応JIS規格 |
JIS Z 4504-3:2023
(IDT)
同等性に関する説明
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備考 | 原文は,Corrected version 2018-02-15です。 |