ISO 7503-2:2016
放射能測定-表面汚染の測定及び見積り-第2部:拭き取り試験サンプルを使用する試験方法
Measurement of radioactivity - Measurement and evaluation of surface contamination -- Part 2: Test method using wipe-test samples
発行年月日:
2016-01-18
状態:
有効
邦訳版:
無
英語 26ページ
25,542 円(税込) 本体価格:23,220円
TC |
ISO/TC 85/SC 2 |
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ICS |
13.280 |
対応JIS規格 |
JIS Z 4504-2:2023
(IDT)
同等性に関する説明
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備考 |