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ISO 23830:2008
表面化学分析-二次イオン質量分析-静的二次イオン質量分析における相対強度スケールの併行精度及び不変性
Surface chemical analysis -- Secondary-ion mass spectrometry -- Repeatability and constancy of the relative-intensity scale in static secondary-ion mass spectrometry

発行年月日: 2008-11-05
状態: 有効
邦訳版: 無

TC ISO/TC 201/SC 6
ICS 71.040.40
対応規格 JIS K 0153:2015 (IDT)
備考
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