ISO 23830:2008
表面化学分析-二次イオン質量分析-静的二次イオン質量分析における相対強度スケールの併行精度及び不変性
Surface chemical analysis -- Secondary-ion mass spectrometry -- Repeatability and constancy of the relative-intensity scale in static secondary-ion mass spectrometry
発行年月日:
2008-11-05
状態:
有効
邦訳版:
無
英語 12ページ
15,108 円(税込) 本体価格:13,735円
| TC |
ISO/TC 201/SC 6 |
|---|---|
| ICS |
71.040.40 |
| 対応規格 |
JIS K 0153:2015
(IDT)
同等性に関する説明
|
| 備考 |