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JIS B 7441:2009
非接触座標測定機の受入検査及び定期検査
Acceptance and reverification tests for coordinate measuring machines (CMM) with non-contacting probing systems

プレビュー
和文(PDF)  英訳(PDF)
規格概要
対象物の形状を多点群の三次元座標値として取得できる非接触座標測定機の受入検査及び定期検査について規定。
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公示の種類 廃止
履歴 2009-09-24 制定
2015-06-22 廃止
廃止理由 他規格へ統合
移行先 JIS B 7440-8:2015
原案作成団体 国立研究開発法人 産業技術総合研究所
ICS 17.040.30
対応国際規格
引用JIS規格 B0641-1 ,  B0672-1 ,  B7440-1
引用国際規格
備考
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